Inspektion und Mikroskopie

Wir bieten Ihnen die Infrastruktur, um vollständig getestete und mit Ihnen zusammen entwickelte Maschinen zu fertigen. Wir implementieren beispielsweise Ihre Sensorik, bauen die Grundstruktur und das Gehäuse auf, installieren die notwendige Sicherheitstechnik und Software und testen die gewünschten Funktionen.

XYZ Positioniersystem für die Wafer-Inspektion bis 12 inch / 300 mm (Reinraum ISO 6) | Hub 305 x 305 x 200 mm
XYZ Positioniersystem für die Wafer-Inspektion bis 12 inch / 300 mm (Reinraum ISO 6) | Hub 305 x 305 x 200 mm
XYZ Positioniersystem für die optische Inspektion von Wafern, Leiterplatten, Probe Cards (Reinraum) | Hub 200 x 200 mm
XYZ Positioniersystem für die optische Inspektion von Wafern, Leiterplatten, Probe Cards (Reinraum) | Hub 200 x 200 mm
2X-Y-Ys (XYZ) Positioniersystem für die Wafer-Inspektion / Raman-Spektroskopie bis 12"/ Panel (Reinraum ISO 4) | Hub 400 x 400 mm
2X-Y-Ys (XYZ) Positioniersystem für die Wafer-Inspektion / Raman-Spektroskopie bis 12"/ Panel (Reinraum ISO 4) | Hub 400 x 400 mm
6-Achs Halbleiter Inspektion Positioniersystem (Reinraum Klasse ISO 4) | Hub XYZ 30 x 30 x 20 mm, RxRy 4°, Rz 360°
6-Achs Halbleiter Inspektion Positioniersystem (Reinraum Klasse ISO 4) | Hub XYZ 30 x 30 x 20 mm, RxRy 4°, Rz 360°
Doppel XYZ Wafer Positionierer für Scanner, Mikroskope und Wafer bis 12 inch / 300 mm (Reinraum ISO2) | Hub 720 x 720 x 100 mm
Doppel XYZ Wafer Positionierer für Scanner, Mikroskope und Wafer bis 12 inch / 300 mm (Reinraum ISO2) | Hub 720 x 720 x 100 mm
XYZ Positioniersystem zur Inspektion & Vermessung mittels Laser, Optik z.B. Solarzellen, Wafer | Hub 1200 x 1400 x 200 mm
XYZ Positioniersystem zur Inspektion & Vermessung mittels Laser, Optik z.B. Solarzellen, Wafer | Hub 1200 x 1400 x 200 mm
XYZ Positioniersystem für die automatisierte Inline Wafer Inspektion z.B. Schichtdickenmessung | Hub 650 x 650 x 100 mm
XYZ Positioniersystem für die automatisierte Inline Wafer Inspektion z.B. Schichtdickenmessung | Hub 650 x 650 x 100 mm
XYZ Positioniersystem zur automatisierten Inspektion - Wafer / Probe Cards (Reinraum) | Hub 720 x 720 x 100 mm
XYZ Positioniersystem zur automatisierten Inspektion - Wafer / Probe Cards (Reinraum) | Hub 720 x 720 x 100 mm
XYZ Inspektionsgantry für Halbleiter | XY Linearmotor, Profilschiene | Z Kugelgewindetrieb, AC-Servo
XYZ Inspektionsgantry für Halbleiter | XY Linearmotor, Profilschiene | Z Kugelgewindetrieb, AC-Servo
X Phi Positioniersystem für die Inspektion von Wafern, biologische Proben (Reinraum ISO 5) | Drehachse und Lineartisch
X Phi Positioniersystem für die Inspektion von Wafern, biologische Proben (Reinraum ISO 5) | Drehachse und Lineartisch
XYZ Phi Inspektionsanlage geeignet für 12-Zoll-Wafer, Leiterplatten (Reinraum ISO 2)
XYZ Phi Inspektionsanlage geeignet für 12-Zoll-Wafer, Leiterplatten (Reinraum ISO 2)
9-Achs Mikroskopiestation für hochauflösende, automatisierte Aufnahmen | XYZ Phi Theta Omega Positioniersystem
9-Achs Mikroskopiestation für hochauflösende, automatisierte Aufnahmen | XYZ Phi Theta Omega Positioniersystem
Mobiles Mikroskop-Stativ für Walzen | Vermessung von zylindrischen, großen, empfindlichen Proben
Mobiles Mikroskop-Stativ für Walzen | Vermessung von zylindrischen, großen, empfindlichen Proben
Mobiles Mikroskop-Stativ für große Platten | Vermessung von großen, empfindlichen Proben
Mobiles Mikroskop-Stativ für große Platten | Vermessung von großen, empfindlichen Proben
Phi-Theta 3D-Scanner | Rotatorisches Positioniersystem zur Inspektion von lebenden Kontaktlinsen (Transplantaten)
Phi-Theta 3D-Scanner | Rotatorisches Positioniersystem zur Inspektion von lebenden Kontaktlinsen (Transplantaten)
Wellenprüfstand für Rundlauf, Rundheit und Zylinderform | Messbereich: Max. Länge 400 mm / Ø 35 mm
Wellenprüfstand für Rundlauf, Rundheit und Zylinderform | Messbereich: Max. Länge 400 mm / Ø 35 mm
3D-Scanner für EMV-Messung von Hochfrequenzelektronik
3D-Scanner für EMV-Messung von Hochfrequenzelektronik
Inspektionssystem für Solar-Wafer
Inspektionssystem für Solar-Wafer
Dreheinheit zur 3D-Innenraum-Inspektion | Phi Positioniersystem für die Inspektion von Dieselmotoren
Dreheinheit zur 3D-Innenraum-Inspektion | Phi Positioniersystem für die Inspektion von Dieselmotoren
Messgerät für Steigungsfehler bei Gewindetrieben
Messgerät für Steigungsfehler bei Gewindetrieben

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